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纳米粒度仪

品牌:美国PSS

型号:Z3000

产地:美国
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型号:
Z3000

产品描述

 

工作原理:

粒度分布:动态光散射仪(Dynamic Light Scattering, DLS)

ZETA电位:多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)

 

检测范围:

粒径范围:0.3nm-10.0μm

ZETA电位: +/- 500mV

 

   Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而 来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,同机采用 多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)检测ZETA电位。粒 径检测范围 0.3nm – 10μm,ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了 高斯( Gaussian)单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀 分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极,一个电极可以 使用成千上万次。另外,采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度,亦帮用户大大 节省检测成本。

 

技术优势

1、PMT高灵敏度检测器;

2、可搭配不同功率光源;

3、双列直插式电极和样品池,可反复使用成千上万次;

4、钯电极;

5、精确度高,最接近样品真实值;

6、复合型算法: 高斯(Gaussion)单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换 相位分析法(PALS)和频谱分析法(FALS)自由切换

7、快速检测,可以追溯历史数据;

8、结果数据以多种形式和格式呈现;

9、符合USP,CP等个多药典要求;

10、无需校准;

11、复合型算法:

(1)高斯(Gaussion)单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换

12、模块化设计便于维护和升级;

(1)可自动稀释模块专利(选配);

(2)搭配多角度检测器(选配);

(3)自动进样系统(选配);

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